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光谱透过率测量仪

描述:YOA-8406系列 光谱透过率测量仪主要用于平面和曲面样品的光谱透过率快速测量。同时可以实时显示透过率曲线和半高宽。YOA-8406系列提供CMOS、CCD、InGaAs探测器版本,支持200-1700nm波长范围定制。二次开发套件支持用户集成和开发。

  • 产品型号:YOA-8406系列
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-05-17
  • 访问量:137
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION
    YOA-8406系列光谱透过率测量仪主要用于平面和曲面样品的光谱透过率快速测量。同时可以实时显示透过率曲线和半高宽。YOA-8406系列提供CMOS、CCD、InGaAs探测器版本,支持200-1700nm波长范围定制。二次开发套件支持用户集成和开发。

    YOA-8406系列光谱透过率测量仪应用领域

    滤光片和光学透镜的透过率

    曲边红外孔径、镀膜反射镜、胶合反射镜和平行板的透射率

    特征

    提供CMOS、CCD和InGaAs探测器版本。

    支持200-1700nm范围深度定制。

    智能化软件设计,简单易用。

    支持系统集成和二次开发。

    范围

姓名 光谱透过率测量仪
波长范围 200-1700nm范围内可定制
探测器 2048像素,线阵CCD
像素尺寸:8 µm*200µm
信噪比 600:01:00
广告 16位
光学分辨率 ~2nm 根据配置
钨丝灯 2000小时(典型
生活
稳定 ±0.5%
测量范围 1%-100%
波长精度(nm) ±0.34nm
通讯接口 USB2.0
电源 15VDC,3A

    典型数据

PIC02_透过率测试仪.jpg


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