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产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION简介
YSC-4076 一维光强分布传感器是一款专为光强线性分布测量设计的精密设备，配备高分辨率阵列式探测器，测量精度高，可精准捕捉光强在单一方向上的动态变化。配合专业光学分析软件，可满足激光光斑分析、光学器件检测等高精度测量需求。紧凑型设计，标配水平调节块，安装灵活，适用于实验室、工业质检及科研场景。
特点
超高分辨率与精度
采用高分辨率阵列式探测器，覆盖宽幅光强分布范围，细节捕捉无遗漏。
jigao的测量精度，精准定位光强峰值与分布趋势。
即插即用，高效传输
USB即插即用，支持实时数据传输与快速分析。
标配水平调节块，轻松校准设备位置，确保测量稳定性。
紧凑便携设计
体积小巧，轻量化结构，适配狭小空间部署。
铝合金外壳，抗干扰性强，适应复杂光学实验环境。
多功能兼容性
配合专业光学分析软件，一键生成光强分布曲线与数据报告。
应用
科研与教学
光学实验教学、光栅衍射实验数据采集与分析。
激光光斑分析
测量激光束横向光强分布。
光学器件检测
透镜、棱镜透射/反射光强分布测试，验证器件均匀性。
显示屏均匀性校准
检测LED屏幕或背光模组的光强线性分布，提升显示效果。
工业质检
光纤、光缆端面光强分布检测，确保产品一致性。
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