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ROE-RI04 # 光学薄膜测量综合实验简介
伴随着21世纪初光电子技术的迅猛发展,光学薄膜器件的应用向着性能要求和技术难度更高、应用范围和知识领域更广、器件种类和需求数量更多的方向迅速发展。为了使学生适应发展需求、拓展知识范围、增加知识深度、开阔视野和提升能力,开发了光学薄膜测量综合实验,针对市场上常用的镀膜片进行研究,从镀膜的原理到实际样品的测试,逐步深入,是学生了解光学镀膜原理和应用的良好实验平台。
ROE-RI04 # 光学薄膜测量综合实验内容
光谱仪的原理与使用实验;
白光干涉测薄膜厚度实验;
镀膜介质折射率测量实验;
单层膜特性模拟实验;
减反射膜模拟与测试实验;
增反射膜模拟与测试实验;
截止滤光片模拟与测试实验;
带通滤光片模拟与测试实验;
分光镜模拟与测试实验;
带通滤光片的角特性实验。
实验知识点
减反射膜、增反射膜、金属膜、分光镜、二向色镜、带通滤光片、白光干涉、薄膜测厚、能量比、反射率、透过率.
实验效果图
实验原理图
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